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不同前驱g-C3N4的制备及光催化性能研究(3)

时间:2024-12-22 20:37来源:99275
1.2.1催化剂自身影响因素 1.2.1.1半导体光催化剂禁带宽度及其位置 通过方程g(nm)=1240/Eg(eV)可知,对光的响应范围与半导体光催化剂的带隙成反比。除此之外

1.2.1催化剂自身影响因素

1.2.1.1半导体光催化剂禁带宽度及其位置

通过方程λg(nm)=1240/Eg(eV)可知,对光的响应范围与半导体光催化剂的带隙成反比。除此之外,半导体光催化剂的价带位置对催化剂的光生电子-空穴对的还原能力有着极大的影响。半导体导带位置电势低,其光生e-的还原能力强;半导体的价带所在的位置电势高,其光生h+的氧化能力强。

1.2.1.2晶型结构

半导体晶体结构分为单晶型和多晶型,晶体结构对半导体的光催化性能有着极大的影响。同以晶体中不同的晶体结构与不同的光催化活性相对,当具有优秀的光催化活性的晶面在晶体中占据大部分时,晶体的光催化活性也会得到显著提高。在氯氧铋晶体中,(001)晶面的光催化活性相对于其他晶面更高,当(001)晶面在晶体中所占比例得到提高,其晶体整体光催化活性也得到显著提高。其他的半导体光催化剂拥有着近似的表现。

1.2.1.3光生载流子分离和捕获

在光催化反应中,光生载流子分离速率越快,光催化剂的催化活性越高,通常认为,催化剂的晶体结构以及表面形貌和光生载流子有着密切联系。目前,光生载流子的分离、复合和调控机制尚不是十分明确。通常认为,半导体的结晶程度决定了电荷的转移速率,当晶体晶相越优良,电子的转移越快,空穴对复合的几率越低,当产生的电子,空穴可以愈加充分参与到氧化还原反应中,光催化活性就愈强。

不同前驱g-C3N4的制备及光催化性能研究(3):http://www.chuibin.com/huaxue/lunwen_205289.html
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