基于一维相位求解算法，使用双波长激光来移相干涉的原理如下[9]：
假设选定的两种工作波长为和。使用工作波长为的光源对待测面进行移相干涉时，使用相位恢复算法运算解出的待测面上的相位信息为，，，…，。其中n为CCD的某一维方向上的有效采样点数量。类似地，使用工作波长为的光源来移相干涉时，使用相位恢复算法运算解出的待测面上的相位信息为，，，…，。
则在和的波长下，第n个采样点的光程差可表示成如下形式：
（2。2）
其中和分与和的第n个采样点的干涉条纹图样的整数级分别对应。
同样地，在和波长下，对应的第n+1个采样点的光程差可表示成：
Fourier双波长激光调谐移相干涉测试技术的研究(4):http://www.chuibin.com/tongxin/lunwen_92054.html