基于单片机的PCB钻床控制系统设计 第9页
构建16的Flash存储器系统,其存储容量为
SST3Y29VF160的OE#端接S
图 3-5 Nor Flash接口电路图
3.4.2 NAND Flash接口设计
与Nor Flash存储器相比,Nand Flash 的接口设计比较复杂。以该系统采用的K
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图 3-6 NAND Flash接口电路图
表 3-2 引脚分布及信号描述
引 脚 |
描 述 |
I/O[7:0] |
数据输入输出、控制命令和地址的输入 |
CLE |
命令锁存信号 |
ALE |
地址锁存信号 |
/CE |
芯片使能信号 |
/RE |
读有效信号 |
/WE |
写有效信号 |
/WP |
写保护信号 |
R/nB |
就绪/忙标志信号 |
Vcc |
电源2.7V~3.3V |
Vss |
接地 |
K
表3-3 S
信号总 |
类型 |
描述 |
CLE |
O |
命令锁存信号 |
ALE |
O |
地址锁存信号 |
nFCE |
O |
芯片使能信号 |
nFRE |
O |
读有效信号 |
NFWE |
O |
写有效信号 |
NCON |
I |
配置端口。如果不使用NAND Flash控制,该端口必须接上来电阻 |
R/nB |
I |
就绪/忙标志信号。如果不使用NAND Flash控制,该端口必须接上来电阻 |
如图3-6所示,K
同时,S3X2410X 的NCON配置端口必须接上拉电阻,为增加稳定性R/nB端口也接上拉电阻。
3.4.3 SDRAM接口电路设计
与Flash存储器相比较,SDRAM不具有掉电保持数据的特性,但由于其存取速度大大高于Flash存储器,且具有读/写的属性,因此,SDRAM在系统中主要做程序的运行空间、数据及堆栈区。当系统启动时,CPU首先从复位地址0x0处读取启动代码,在完成系统的初始化后,程序代码一般应调入SDRAM中运行,以提高系统的运行速度。同时,系统及用户堆栈运行数据也都放在SDRAM中。
SDRAM具有单位空间存储容量大和价格便宜的优点,已广泛应用在各种嵌入式系统中。
SDRAM的存储单元可以理解为一个电容,总是倾向于放电,为避免数据丢失,必须定时刷新(充电)。由此可见,要在系统中使用SDRAM,就要求微处理器具有刷新控制逻辑,或在系统中另外加入刷新控制逻辑。S
目前常用的SDRAM为8位/16位的数据宽度,工作电压一般为3.3V。主要的生产厂商为HYUNDAI、Winbond等。他们生产的同型器件一般具有相同的电气特性和封装形式,可以通用。
DevicARM2410核心板上扩展有2片SDRAM(HY57V581620),使用了S
HY57V581620的BA0、BA1引脚是SDRAM内部bank选择地址线,也就代表了SDRAM内存地址的最高位。如果SDRAM内存共有64MB,那就需要26根地址线(2=64MB)来进行寻址,所以BA0、BA1应连接到S
其它控制信号按照HY57V581620的引脚功能一一对应连接即可,如HY57V581620的nSRAS引脚与S
3.5 JTAG接口电路
JTAG(Joint Test Action Group),联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议,主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试,JTAG技术是一种嵌入式调试技术,它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP ( Test Access Port,测试访问口沁通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。目前大多数比较复杂的器件都支持JTAG
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图 3-7 SDRAM接口电路图
协议,如ARM,DSP,FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线:TMS,TCK,TDI,TDO,分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起,形成一个JTAG链,能实现对各个器件分别测试。JTAG接口还常用于实现ISP (In-SystemProgrammable在系统编程)功能,如对FLASH器件进行编程等。
通过JTAG接口,可对芯片内部的所有部件进行访问,因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。目前JTAG接口的连接有两种标准,即14针接口和20针接口,分别如图3-8和3-9所示。
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图3-8 14针JTAG接口图
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图3-9 20针JTAG接口图
14针JTAG接口定义如表3-4所示:
表3-4 14针JTAG接口定义
引脚 |
名称 |
描述 |
1, 13 |
VCC |
接电源 |
2, 4, 6, 8, 10, 14 |
GND |
接地 |
3 |
nTRST |
测试系统复位信号 |
5 |
TDI |
测试数据串行输入 |
7 |
TMS |
测试模式选择 |
9 |
TCK |
测试时钟 |
11 |
TDO |
测试数据串行输出 |
12 |
NC |
未连接 |
20针JTAG接口定义如表3-5所示。
表3-5 20针JTAG接口定义
引脚 |
名称 |
描述 |
1 |
VTref |
目标板参考电压,接电源 |
2 |
VCC |
接电源 |
3 |
nTRST |
测试系统复位信号 |
4,6,8,10,12,14,16,18,20 |
GND |
接地 |
5 |
TDI |
测试数据串行输入 |
7 |
TMS |
钡组试模式选择 |
9 |
TCK |
测试时钟 |
11 |
RTCK |
测试时钟返回信号 |
13 |
TDO |
测试数据串行输出 |
15 |
nRESET |
目标系统复位信号 |
17,19 |
NC |
未连接 |
我们采用的是20针的JTAG接口,电路图如图3-10所示。
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