单片机智能温度计设计 第5页
若

图1—5 Flash编程                     图 1—6 程序的校验

图1—7   Flash编程和校验的波形（高电平编程方式）

2.2.8 准备就绪/忙信号

字节编程的过程也可通过RDY//BSY输出信号来监视。在编程期间，当ALE变为高电平后，P3.4（RDY//BSY）端的电平被拉低，表示忙（正在编程）状态。编程完毕后，P3.4的电平变高表示就绪状态。

2.2.9 程序的校验

 如果加密位LB1和LB2没有被编程，那么就可以对AT89C51内部已编好的程序进行校验。这时采用图6所示的引脚接法。程序存储器的地址仍由P1端口和P2端口的P2.0～P2.3输入，数据由P0端口输入。P2.6、P2.7和P3.6、P3.7的电平见表1-4。/PSEN保持低电平，而ALE、/EA和RST保持高电平。校验时，在P0端口上要求外接约10KΩ左右的上拉电阻。

程序加密位不能直接校验。加密位的校验可通过观察它们的功能是否被允许来进行。

Flash存储器编程和程序校验时的时序图见图1—7（高电平编程）和图1—8（低电压编程）。

图 1—8  Flash编程和校验的波形（低电压编程方式）

2.6 其它

为增强系统在工作现场的抗干扰能力，在硬件设计方面采取了一系列措施，例如，信号的输入／输出采用电平转换、光电隔离；正确配置接地系统，处理好共地信号；强电信号和弱电信号分开走线，传输线尽可能使用双绞线和屏蔽电缆；设置ＷＤＴ时钟监视电路，自动监视ＣＰＵ运行状态，出现故障自动处理，同时具有硬件自诊断功能，避免“死机”现象发生等等。

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